Newsletter 04/2008
Mit dieser Ausgabe möchten wir Sie ganz herzlich auf unseren Messestand einladen. Besuchen Sie uns auf einer dieser Messen:
SENSOR + TEST in Nürnberg, dem weltgrößten Branchentreff der Sensorik und Messtechnik
6. bis 8. Mai 2008
Halle 9, Stand 471
Testing Expo in Stuttgart, dem jährlichen Testing Event der Automobilindustrie
6. bis 8. Mai 2008
Halle 1, Stand 1860
Wir zeigen auf beiden Messen Trends in der dezentralen Messtechnik und freuen uns auf ein interessantes Gespräch mit Ihnen.
Aktuelle Entwicklungen in der Reihe e.series
- Neue Test Controller vervollständigen die Familie:
Neben den Versionen mit Ethernet und Profibus-DP Schnittstelle stehen nun auch Test Controller mit den Schnittstellen EtherCAT oder CANopen Schnittstelle zur Verfügung
- Test Controller e.pac DL:
Die Logging-Version bietet einen geräteinternen Speicher für 32 Mio Messwerte und eine USB Schnittstelle für den Anschluss von externen HDD. Damit sind fast unbegrenzte Speicherzeiten zu realisieren
- CAN Kommunikationsmodul D3 CAN:
Einbinden von CAN Komponenten aus der Prozess- und I/O- Ebene in ein e.series System.
- Schnelles Messmodul e.bloxx A2:
Spannungen, Ströme , ICP Sensoren und DMS Halb- und Vollbrücken mit 5 kHz Messrate erfassen, TEDS-Funktionalität
- Erweiterte Funktion beim Digitalmodul e.bloxx D1:
Messung der Frequenz und des Tastverhältnises von PWM Signalen Zeitmessung über digitale Eingänge von 1 µs bis 16 s
DIE NEUHEIT
Konzept-Premiere:
der zukünftige Maßstab für dezentrales Messen in der Prüftechnik. Lassen Sie sich das nicht entgehen.
